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0769-88030227
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設(shè)備：AFM粗糙度測(cè)試儀Dimension ICON
廠商：德國(guó) Bruker
用途：通過探測(cè)微細(xì)針尖和樣品原子團(tuán)之間相互作用力的變化來檢測(cè)樣品表面的高低起伏，具有原子級(jí)分辨率的表面形貌和表面特性分析。檢測(cè)固體材料粗糙度和局部形貌
技術(shù)指標(biāo)：
l 最大掃描范圍：10umX10um，最小值：10nmX10nm
l 樣品臺(tái)尺寸：φ35mm
l 表面粗糙度：最大值為1μm
l 測(cè)試模塊：形貌測(cè)試、導(dǎo)電性能測(cè)試、靜電力測(cè)試、表面電勢(shì)測(cè)試、磁學(xué)測(cè)試、納米力學(xué)測(cè)試
地址：廣東省東莞市松山湖國(guó)家高新區(qū)總部一號(hào)12棟5樓
電話：0769-33882377
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